如何通過(guò)掃描電鏡實(shí)現(xiàn)三維表面重建和虛擬切片？
通過(guò)掃描電子顯微鏡（SEM）可以實(shí)現(xiàn)三維表面重建和虛擬切片，這需要使用多張二維圖像和圖像處理軟件。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2023-07-25
通過(guò)掃描電子顯微鏡（SEM）可以實(shí)現(xiàn)三維表面重建和虛擬切片，這需要使用多張二維圖像和圖像處理軟件。
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通過(guò)掃描電子顯微鏡（SEM）進(jìn)行材料表面形貌的定量分析是一種常見(jiàn)且有效的方法。
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在掃描電子顯微鏡（SEM）中，樣品表面充電是一個(gè)常見(jiàn)的問(wèn)題。當(dāng)樣品處于高真空環(huán)境下，并且受到來(lái)自電子束的照射時(shí)，可能會(huì)發(fā)生表面電子的發(fā)射和重新組合，導(dǎo)致樣品表面帶電。這會(huì)導(dǎo)致圖像失真、信號(hào)衰減以及可能損害樣品。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2023-07-25
操作樣品桿來(lái)放置樣品需要一定的謹(jǐn)慎和技巧，以確保樣品正確放置在所需位置并保持穩(wěn)定。
MORE INFO → 常見(jiàn)問(wèn)題 2023-07-20
樣品桿的材料通常選擇能夠滿(mǎn)足特定應(yīng)用需求的高質(zhì)量材料。樣品桿需要具有足夠的穩(wěn)定性、剛性和耐用性，以支撐和操縱樣品，并保持其在儀器中的正確位置。
MORE INFO → 常見(jiàn)問(wèn)題 2023-07-20
樣品桿是一種用于支持和操縱樣品的裝置，它通常用于各種科學(xué)研究、實(shí)驗(yàn)和分析儀器中。
MORE INFO → 常見(jiàn)問(wèn)題 2023-07-20
臺(tái)式掃描電鏡（SEM）的樣品轉(zhuǎn)臺(tái)支持的角度范圍可以因不同的型號(hào)和廠家而異，但通常在一定角度范圍內(nèi)具有一定的轉(zhuǎn)動(dòng)能力。
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臺(tái)式掃描電鏡（SEM）的工作模式是連續(xù)波模式，而不是脈沖波模式。
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