掃描電鏡是一種常用的電子顯微鏡，它通過掃描電子束來檢測(cè)樣品的表面結(jié)構(gòu)和形貌。

掃描電鏡的工作原理：在真空中，通過電子源發(fā)射一束電子束，對(duì)樣品進(jìn)行掃描，在樣品表面上發(fā)生電子與樣品互作用，造成一些電子被向外發(fā)射，這些電子被電子探測(cè)器檢測(cè)并轉(zhuǎn)換成圖像。

掃描電鏡的優(yōu)勢(shì)：

高分辨率：SEM 可以得到高分辨率的圖像，適合研究微細(xì)結(jié)構(gòu)。

可以得到三維圖像：SEM 可以通過立體成像技術(shù)得到三維圖像，方便了研究。

可以研究非金屬樣品：SEM 可以對(duì)非金屬樣品進(jìn)行研究，擴(kuò)大了應(yīng)用領(lǐng)域。

ZEM15臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī)

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