在掃描電鏡（SEM）中，電子束與樣品之間存在多種相互作用。這些相互作用包括：

散射：當(dāng)電子束與樣品中的原子或分子相互作用時，會發(fā)生散射現(xiàn)象。這包括彈性散射（即高角度散射，用于成像）和非彈性散射（即低角度散射，通常用于能譜分析）。散射事件提供了有關(guān)樣品中原子排列、晶體結(jié)構(gòu)和化學(xué)成分的信息。

透射：在樣品較薄或具有透明性的區(qū)域，電子束可能會穿過樣品而不被散射。這種透射現(xiàn)象類似于透射電子顯微鏡（TEM），它提供了關(guān)于樣品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和組成的信息。

吸收：樣品中的原子或分子可以吸收電子束的能量，導(dǎo)致電子束的衰減。這種吸收現(xiàn)象可以用于測量樣品的組成和密度。

輻射：電子束與樣品相互作用時，會產(chǎn)生輻射，如熒光輻射、逆康普頓散射和布拉格反射。這些輻射事件提供了有關(guān)樣品的能譜信息。

電荷交換：電子束與樣品中的原子或分子之間可能發(fā)生電荷交換，導(dǎo)致電子束和樣品之間的電荷轉(zhuǎn)移。這種電荷交換作用可以用于探測樣品的電荷狀態(tài)、化學(xué)反應(yīng)和表面電荷密度。

這些電子束與樣品的相互作用產(chǎn)生的信號可以被SEM系統(tǒng)檢測和記錄，用于生成圖像和分析樣品的結(jié)構(gòu)、形貌、組成和性質(zhì)。不同的相互作用方式可以用于不同的SEM技術(shù)和應(yīng)用，如成像、能譜分析、電子背散射圖像等。

ZEM15臺式掃描電子顯微鏡

以上就是澤攸科技小編分享的掃描電鏡中的電子束與樣品的相互作用。更多掃描電鏡信息及價格請咨詢