掃描電鏡（SEM）和傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡在工作原理、分辨率、樣品準(zhǔn)備和觀察方式等方面存在顯著的區(qū)別。

工作原理：傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡使用可見(jiàn)光或近紅外光來(lái)照明樣品，并通過(guò)透射光來(lái)觀察樣品的細(xì)節(jié)。而掃描電鏡則使用電子束來(lái)照射樣品，并測(cè)量由樣品表面產(chǎn)生的信號(hào)，例如次級(jí)電子和后向散射電子。

分辨率：光學(xué)顯微鏡的分辨率受到光的波長(zhǎng)的限制，一般為幾百納米量級(jí)。而掃描電鏡利用電子束的波動(dòng)性，具有較高的分辨率，通?？梢赃_(dá)到納米級(jí)別，甚至亞納米級(jí)別。因此，掃描電鏡可以提供更高的圖像清晰度和更詳細(xì)的表面細(xì)節(jié)。

觀察模式：傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡是通過(guò)直接觀察透射光來(lái)獲取樣品信息，觀察過(guò)程是實(shí)時(shí)的。而掃描電鏡是通過(guò)對(duì)樣品表面進(jìn)行掃描和信號(hào)檢測(cè)來(lái)獲取圖像，觀察是間接的，需要一定的時(shí)間來(lái)獲得圖像。

樣品準(zhǔn)備：傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡對(duì)樣品準(zhǔn)備的要求相對(duì)較低，通常只需將樣品放置在載玻片上即可。而掃描電鏡對(duì)樣品的準(zhǔn)備較為復(fù)雜，通常需要對(duì)樣品進(jìn)行表面涂層、真空處理或金屬化處理，以提高樣品的導(dǎo)電性和表面細(xì)節(jié)的清晰度。

應(yīng)用領(lǐng)域：傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡在生物學(xué)、材料科學(xué)、藥學(xué)等領(lǐng)域具有廣泛應(yīng)用，適用于對(duì)透明樣品和薄片的觀察。掃描電鏡在材料科學(xué)、納米技術(shù)、半導(dǎo)體工業(yè)等領(lǐng)域中得到廣泛應(yīng)用，尤其適用于對(duì)非透明樣品、表面形貌和納米結(jié)構(gòu)的觀察和分析。

ZEM15臺(tái)式掃描電子顯微鏡

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