掃描電鏡和透射電鏡是兩種不同類型的顯微鏡，都用于觀察微觀結(jié)構(gòu)，但它們的工作原理、成像方式以及適用范圍有很大的不同。

掃描電鏡（SEM）：

工作原理： SEM使用聚焦的電子束掃描樣品表面，與樣品表面的相互作用產(chǎn)生的電子信號(hào)用于生成表面形貌圖像。電子束與樣品之間的相互作用主要包括二次電子發(fā)射、反射電子、和散射電子等。

成像方式： SEM生成的是樣品表面的三維形貌圖像，通過掃描電子束在樣品表面的位置來形成圖像。圖像通常具有較大的深度信息，但不提供關(guān)于樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的詳細(xì)信息。

適用范圍： SEM適用于觀察樣品的表面形貌、紋理、尺寸、膨脹等特征。它通常用于材料科學(xué)、生物學(xué)、地質(zhì)學(xué)等領(lǐng)域。

透射電鏡（TEM）：

工作原理： TEM通過將電子束穿過樣品并通過樣品的薄片，測量透射的電子來獲得圖像。透射電子在穿過樣品時(shí)與樣品內(nèi)部的原子和結(jié)構(gòu)相互作用，產(chǎn)生不同程度的散射和吸收。

成像方式： TEM生成的是樣品的二維截面圖像，通過測量電子束透射的強(qiáng)度變化來形成圖像。它能夠提供高分辨率的樣品內(nèi)部細(xì)節(jié)，如細(xì)胞內(nèi)部結(jié)構(gòu)、晶體結(jié)構(gòu)等。

適用范圍： TEM適用于研究樣品的微觀結(jié)構(gòu)、晶體學(xué)、納米尺度的材料和生物學(xué)特征等。它能夠揭示樣品內(nèi)部的原子排列和結(jié)構(gòu)。

ZEM15臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī)

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