在掃描電子顯微鏡（SEM）圖像中，偽影（artifacts）和畸變（distortions）可能會對圖像的解釋和分析造成困擾。以下是一些避免和糾正SEM圖像中偽影和畸變的方法：

避免偽影和畸變的方法：

樣品制備： 適當?shù)臉悠分苽涫潜苊鈧斡昂突兊年P(guān)鍵。遵循正確的制備步驟，使用合適的固定劑、脫水劑等，以保持樣品的結(jié)構(gòu)和形態(tài)。

避免過度涂層： 在樣品涂覆金屬薄層時，避免過度涂層，以免產(chǎn)生射線吸收、背散射等效應(yīng)，導(dǎo)致圖像偽影。

選擇合適的工作距離： 在SEM操作時，選擇適當?shù)墓ぷ骶嚯x以避免圖像畸變。工作距離過大或過小都可能導(dǎo)致圖像失真。

適當?shù)恼婵斩龋?SEM操作需要在真空環(huán)境下進行，但過高的真空度可能導(dǎo)致表面電荷積聚和偽影。保持適當?shù)恼婵斩纫员苊膺@種問題。

樣品定位： 將樣品適當?shù)胤胖迷赟EM樣品臺上，避免不均勻壓力和位移，以減少圖像的畸變。

糾正偽影和畸變的方法：

標定： 定期進行SEM系統(tǒng)的標定，包括工作距離、像素大小等，以確保獲得準確的圖像尺寸和形狀。

去除背景噪音： 使用圖像處理軟件去除圖像中的背景噪音，以減少偽影的影響。

圖像校正： 使用圖像處理軟件進行圖像校正，如扭曲校正、幾何校正等，以糾正圖像中的畸變。

比較： 將SEM圖像與其他技術(shù)（如光學顯微鏡、透射電子顯微鏡等）得到的圖像進行比較，以確認圖像中的特征是否真實。

控制參數(shù)： 在SEM操作過程中，控制加速電壓、工作距離等參數(shù)，以減少偽影和畸變。

ZEM18臺式掃描電鏡

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