臺式掃描電鏡（SEM）和傳統(tǒng)電子顯微鏡（TEM）在工作原理、應(yīng)用和圖像獲取方面有一些不同之處：

工作原理：

SEM：SEM使用電子束掃描樣品表面，然后檢測從樣品表面反射、散射或者發(fā)射出來的信號，如二次電子、背散射電子、X射線等，來獲取圖像。

TEM：TEM通過透射電子束穿透樣品，然后檢測透射電子的強度和位置信息，從而獲得樣品的高分辨率內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖像。

應(yīng)用范圍：

SEM：SEM主要用于表面形貌和表面結(jié)構(gòu)的研究，可用于金屬、陶瓷、生物材料、半導(dǎo)體等樣品的觀察和分析。

TEM：TEM主要用于觀察材料的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和晶體學(xué)特征，對納米結(jié)構(gòu)和原子級別的材料研究尤為重要。

圖像獲取：

SEM：SEM圖像是樣品表面的三維形貌圖像，具有高深度和高分辨率，能夠顯示樣品的表面形態(tài)和微觀結(jié)構(gòu)。

TEM：TEM圖像是樣品的二維投影圖像，通常具有更高的分辨率，能夠顯示材料的晶體結(jié)構(gòu)、晶面、原子排列等細節(jié)。

樣品準備：

SEM：SEM對樣品的準備要求相對較低，通常不需要太復(fù)雜的樣品制備過程，樣品可以直接進行觀察。

TEM：TEM對樣品的制備要求較高，通常需要將樣品制備成非常薄的切片，以確保電子束能夠透射樣品并獲得清晰的圖像。

分辨率：

SEM：SEM的分辨率通常在納米級別，能夠觀察到樣品表面的微觀結(jié)構(gòu)和細節(jié)。

TEM：TEM的分辨率通常在埃級別（0.1納米），能夠觀察到樣品內(nèi)部的原子級別的細節(jié)。

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