掃描電鏡是一種高分辨率的顯微鏡，常用于觀察微小的表面結(jié)構(gòu)和形貌。常見的掃描電鏡類型包括：

普通掃描電鏡：使用熱陰極發(fā)射電子，并將其聚焦成一束電子束，通過掃描控制電子束掃描樣品表面，然后通過檢測樣品表面反射的電子信號來獲取圖像。

場發(fā)射掃描電鏡：使用針尖狀的場發(fā)射電極作為電子源，以高度聚焦的電子束掃描樣品表面，以獲得更高分辨率的圖像。

環(huán)境掃描電鏡：可以在高濕度、高真空等特殊條件下觀察樣品，通常使用寬孔徑的檢測器來檢測與樣品表面相互作用的電子和離子，以便獲得更多的信息。

低溫掃描電鏡：可以在較低的溫度下觀察樣品，適用于觀察具有高含水量的樣品或者是需要觀察冷凍或冰凍樣品的情況。

掃描透射電鏡：結(jié)合了透射電鏡和掃描電鏡的特點，可以同時觀察樣品的表面形貌和內(nèi)部結(jié)構(gòu)。

ZEM15臺式掃描電子顯微鏡

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