臺式掃描電鏡的對焦一般分為粗調(diào)和細(xì)調(diào)兩個階段。以下是對這兩個階段的具體介紹：

粗調(diào)對焦

粗調(diào)對焦主要是將樣品表面調(diào)至顯微鏡的初級對焦位置，以便進(jìn)行后續(xù)的細(xì)調(diào)對焦。一般來說，進(jìn)行粗調(diào)對焦時需要先將電子槍調(diào)至合適的位置，使其可以照射到樣品表面；然后調(diào)整樣品臺位置，將樣品表面與電子束聚焦面基本平行，這時樣品表面就可以看到清晰的影像，接下來可以通過微調(diào)樣品臺高度和位置，使影像進(jìn)一步清晰和穩(wěn)定。

細(xì)調(diào)對焦

細(xì)調(diào)對焦主要是在初級對焦的基礎(chǔ)上進(jìn)行的，目的是使影像更加清晰、銳利，甚至可以達(dá)到納米級的分辨率。具體的操作方法有很多種，常見的包括：

調(diào)整聚焦補償：在粗調(diào)對焦的基礎(chǔ)上，通過調(diào)整聚焦補償，使影像更加清晰、銳利。

調(diào)整倍率：在粗調(diào)對焦的基礎(chǔ)上，通過調(diào)整電子透鏡的倍率，使影像更加清晰、銳利。

調(diào)整工作距離：在粗調(diào)對焦的基礎(chǔ)上，通過調(diào)整樣品和探針之間的工作距離，使影像更加清晰、銳利。

調(diào)整對比度和亮度：在粗調(diào)對焦的基礎(chǔ)上，通過調(diào)整對比度和亮度，使影像更加清晰、銳利。

ZEM15臺式掃描電子顯微鏡

總之，細(xì)調(diào)對焦是一個非常復(fù)雜、技術(shù)含量較高的過程，需要根據(jù)具體的實驗條件和要求進(jìn)行細(xì)致的調(diào)整和優(yōu)化。

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