掃描電鏡（SEM）通過(guò)結(jié)合能譜儀（Energy Dispersive Spectroscopy, EDS 或 EDX）或波譜儀（Wavelength Dispersive Spectroscopy, WDS）等附加設(shè)備，可以實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品的元素組成分析。以下是其工作原理、操作步驟和優(yōu)勢(shì)的詳細(xì)說(shuō)明：

1. 元素分析的基本原理

電子束激發(fā)：SEM 中的高能電子束轟擊樣品表面，使樣品原子中的內(nèi)層電子被激發(fā)并逸出。

特征 X 射線的產(chǎn)生：內(nèi)層電子逸出后，外層電子填補(bǔ)空缺時(shí)釋放能量，以特征 X 射線的形式發(fā)射。

特征 X 射線的能量或波長(zhǎng)與元素類型是元素分析的關(guān)鍵信號(hào)。

信號(hào)檢測(cè)：EDS 通過(guò)能量色散分析，檢測(cè)特征 X 射線的能量，確定元素種類。

WDS 通過(guò)波長(zhǎng)色散分析，根據(jù) X 射線波長(zhǎng)確定元素組成，精度更高。

2. 分析步驟

(1) 樣品準(zhǔn)備

導(dǎo)電處理：非導(dǎo)電樣品需涂覆導(dǎo)電膜（如碳膜或金膜）以減少電荷積累對(duì)分析的影響。

表面清潔：保持樣品表面清潔，避免污染物影響分析結(jié)果。

(2) 儀器設(shè)置

加速電壓：通常設(shè)置在 10-20 kV，以激發(fā)更強(qiáng)的特征 X 射線。

探測(cè)器配置：使用 EDS 探頭或 WDS 探頭采集 X 射線信號(hào)。

(3) 數(shù)據(jù)采集

選擇區(qū)域：可以分析點(diǎn)、線、面區(qū)域，根據(jù)需求選擇不同的采樣方式：點(diǎn)分析：獲取特定微區(qū)的元素信息。

線掃描：沿一條線檢測(cè)元素分布。

面掃描：獲取元素的二維分布圖。

獲取光譜：EDS 生成 X 射線能量光譜，顯示樣品中各元素的特征峰。

(4) 數(shù)據(jù)處理

定性分析：根據(jù)特征峰的位置確定樣品中存在的元素。

定量分析：根據(jù)特征峰的強(qiáng)度，結(jié)合校準(zhǔn)數(shù)據(jù)，計(jì)算各元素的含量（通常為質(zhì)量分?jǐn)?shù)或原子分?jǐn)?shù)）。

映射生成：對(duì)面掃描結(jié)果進(jìn)行處理，生成元素分布圖，直觀顯示不同元素的空間分布。

3. 注意事項(xiàng)

檢測(cè)極限：EDS 對(duì)輕元素（如氫、碳、氧）靈敏度較低，WDS 更適合輕元素分析。

空間分辨率：分析區(qū)域的空間分辨率由電子束直徑和激發(fā)體積決定，通常為微米到亞微米量級(jí)。

峰重疊：某些元素的特征峰可能重疊，需通過(guò)軟件解譜或結(jié)合標(biāo)準(zhǔn)樣品校準(zhǔn)。

樣品厚度：樣品厚度過(guò)大會(huì)導(dǎo)致 X 射線自吸收或背散射效應(yīng)，從而影響定量結(jié)果。

4. 優(yōu)勢(shì)與局限性

優(yōu)勢(shì)

多功能性：結(jié)合 SEM 成像，可以同時(shí)進(jìn)行形貌和成分分析。

無(wú)損性：分析過(guò)程對(duì)樣品損傷較小。

局限性

精度限制：EDS 的定量精度通常為 1-2%，WDS 精度更高但分析速度較慢。

輕元素分析困難：EDS 對(duì)輕元素（如鋰、氫）的檢測(cè)靈敏度有限。

5. 應(yīng)用場(chǎng)景

材料科學(xué)：分析金屬、陶瓷、聚合物等材料的成分。

地質(zhì)學(xué)：檢測(cè)礦石或巖石樣品的元素組成。

生命科學(xué)：研究生物樣品中的微量元素。

半導(dǎo)體行業(yè)：分析薄膜和界面的元素分布。

以上就是澤攸科技小編分享的掃描電鏡如何分析元素組成。更多掃描電鏡產(chǎn)品及價(jià)格請(qǐng)咨詢