在掃描電鏡（SEM）中，調節(jié)樣品臺傾斜角度的作用主要有以下幾點：

1. 增強表面立體感和細節(jié)對比

適當傾斜樣品，可以讓電子束在表面形成更明顯的陰影效果，使紋理、顆粒、微小凹凸的細節(jié)更加清晰。

這種立體感提升，有助于觀察樣品的微觀結構特征，比如裂紋、孔洞、臺階狀形貌。

2. 改善背散射電子成像（BSE）對比

BSE 成像對元素原子序數(shù)（Z值）敏感。

樣品傾斜后，不同區(qū)域的背散射強度變化更明顯，可以提高成分對比，使材料分界更加清晰。

3. 有助于能譜分析（EDS）

進行能譜（EDS）檢測時，理想狀態(tài)是電子束與樣品表面接近垂直，探測器與樣品之間角度適中。

適當傾斜可以優(yōu)化探測器的接收角，提高能譜信號采集效率，減少遮擋，提升分析準確性。

4. 便于特定斷面或內部結構觀察

如果需要觀察樣品的某個斷面、剖面，或者內部細微結構，傾斜樣品可以讓目標區(qū)域直接暴露在電子束下，更容易成像。

5. 減少充電效應（在某些情況下）

對絕緣樣品，適當傾斜可能有助于電子荷流更好地分散，略微緩解局部充電導致的成像問題。