臺(tái)式掃描電鏡如何對納米粒子的表征及形貌進(jìn)行分析

納米粒子是指尺寸在1到100納米范圍內(nèi)的微小顆粒，其粒徑與光的波長相近，因此無法用光學(xué)顯微鏡觀察，而臺(tái)式掃描電鏡則是一種有效的工具進(jìn)行納米粒子表征和形貌分析。

購買臺(tái)式掃描電鏡需考慮哪些參數(shù)

購買臺(tái)式掃描電鏡時(shí)，需要考慮以下參數(shù)：

在SEM掃描電鏡中，像散指的是圖像出現(xiàn)的模糊和扭曲現(xiàn)象。

SEM掃描電鏡是一種高分辨率的成像技術(shù)，它使用電子束而不是光來照射樣本，產(chǎn)生非常精細(xì)的圖像。

掃描電鏡樣品氧化可能會(huì)對樣品的分析產(chǎn)生負(fù)面影響，因此在進(jìn)行掃描電鏡分析之前，要采取一些預(yù)防措施，避免樣品氧化。

SEM掃描電鏡SEM和TEM電子掃描電鏡都是常用的電子顯微鏡，但它們的工作原理、樣品制備要求和應(yīng)用領(lǐng)域有所不同。

臺(tái)式掃描電鏡的對焦一般分為粗調(diào)和細(xì)調(diào)兩個(gè)階段。以下是對這兩個(gè)階段的具體介紹：

臺(tái)式掃描電鏡的分辨率要根據(jù)具體的實(shí)驗(yàn)需求和樣品類型來確定。